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        艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗新標(biāo)準(zhǔn)

        單價: 面議
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        所在地: 廣東 深圳
        有效期至: 長期有效
        發(fā)布時間: 2023-12-17 12:55
        最后更新: 2023-12-17 12:55
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        GJB4.11-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗鹽霧試驗

        本部分主要確定電子元器件或零部件抗鹽霧腐蝕的能力。主要用以評定金屬保護層的質(zhì)量及其均勻性,特別適用于對類似保護層進行比較。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了艦船電子設(shè)備的元器件及零部件的鹽霧試驗,它是制定艦船電子設(shè)備總技術(shù)條件或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用的依據(jù).

        鹽霧沉降率的數(shù)值應(yīng)為1.0-2.0毫米/80厘米2.小時。鹽溶液的溫度應(yīng)與箱溫一致,噴霧液不許重復(fù)使用。試驗采用間歇噴霧方法,在溫度35時,連續(xù)噴霧8小時,停止加熱,停止噴霧,在靜止和密閉狀態(tài)下保持16小時,共24小時為1個周期。檢測:按照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對樣品進行外觀檢查及電性能的檢測。實驗室完全按照ISO/IEC17025:2005《檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用要求》(CNAS-CL01)《檢測和校準(zhǔn)實驗室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》)的


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